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更新日期:2024-09-20
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簡要描述:該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照標準要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
高低溫交變濕熱試驗箱的用途
該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。
該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照標準要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
設(shè)備的主要技術(shù)指標
型號 工作室尺寸 (cm)
F-TH-150 W50×D50×H60
F-TH-225 W50×D60×H75
F-TH-408 W60×D80×H85
F-TH-800 W80×D100×H100
F-TH-1000 W100×D100×H100
F-TH-1500 W100×D150×H100
溫度范圍:0℃、-20℃、-40℃、-60℃、-70℃~+100℃(+150℃)
濕度范圍:30%~98%R·H(可按客戶要求定做)
溫度均勻度:≤±2℃
溫度波動度:≤±0.5℃
濕度偏差:+2/-3% R·H
升溫速率:≥2-3℃/min(可按客戶要求定做)
降溫速率:≤1℃/min(可按客戶要求定做)
標準配置:
1、觀察窗
2、測試引線孔
3、防潮照明燈
4、不銹鋼樣品架
保溫體:超細玻璃纖維
循環(huán)系統(tǒng):不銹鋼風(fēng)葉,單循環(huán),低噪音離心風(fēng)機
安全配置:漏電斷電保護,壓縮機超壓,過熱過流保護,過載熔斷保護,風(fēng)機過熱保護,聲訊報警等。
設(shè)備的結(jié)構(gòu)特征
本設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。箱體的外殼為采用采用SUS304不銹鋼油發(fā)紋板或?qū)氫摾滠堜摪屐o電噴塑,箱門中間設(shè)大面積觀察窗,并配有觀察燈,使用戶可以清晰地看到試樣的試驗情況。外型整體美觀大方。保溫層為硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡加上少量的超細玻璃棉,具有強度高,保溫性有好等特點。本設(shè)備采用標準化多功能設(shè)計、有程序運行和恒定運行功能。主控制儀采用韓國進口觸摸屏溫濕度控制儀,液晶LCD顯示,具有通訊接口,大容量程序,操作簡單,用戶可自定義溫、濕度控制曲線進行溫濕度試驗。升溫、降溫、加濕、去濕獨立,*的BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式。具有定時功能。制冷系統(tǒng)采用全封閉進口壓縮機組,機械式單級制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng),全自動控制與安全保護協(xié)調(diào)系統(tǒng)。不銹鋼鎳鉻板形電加熱器(過沖?。?,加濕采用不銹鋼加濕管,加濕方式為蒸汽加濕,水位自動控制。
設(shè)備的安全保護裝置
1.電源超載、短路保護
2.接地保護
3.超溫保護
4.缺水保護
5.壓縮過壓、過載保護
6.為保護設(shè)備,所有報警均會自動切斷電源,并發(fā)出聲訊提示。
設(shè)備的使用現(xiàn)場的條件
1.溫度:15℃~35℃
2.相對濕度:不大于85%RH
3.周圍無強烈振動、無強烈電磁場影響
4.周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
5.無陽光直接照射或其它熱源直接輻射
6.周圍無強烈氣流,當周圍空氣需要強制流時,氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。
7.試驗箱應(yīng)放置平穩(wěn),保持水平。
8.試驗箱的四周應(yīng)留有一定的距離,方便維修操作。
9.安裝場地通風(fēng)良好
10.良好接地
服務(wù)承諾
1.免費上門安裝調(diào)試、培訓(xùn)操作人員。
2.產(chǎn)品自交付用戶使用之日起包修壹年。
該設(shè)備是按照下列標準之一或其結(jié)合為依據(jù)而制造的:
GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10586-89 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備
GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則